8-cola silicia plateto P/N-tipa (100) 1-100Ω imita reakira substrato

Mallonga Priskribo:

Granda stokregistro de duflankaj poluritaj oblatoj, ĉiuj oblatoj de 50 ĝis 400mm en diametro. Se via specifo ne haveblas en nia stokregistro, ni establis longdaŭrajn rilatojn kun multaj provizantoj, kiuj kapablas fabriki oblatojn laŭmende por konveni al ajna unika specifo. Duflankaj poluritaj oblatoj povas esti uzataj por silicio, vitro kaj aliaj materialoj ofte uzataj en la duonkonduktaĵa industrio.

Sendu retpoŝton al ni

Produkta Detalo

Produktaj Etikedoj

Enkonduku vaflan skatolon

La 8-cola silicia silicia silo estas ofte uzata silicia substrata materialo kaj estas vaste uzata en la fabrikada procezo de integraj cirkvitoj. Tiaj siliciaj silo estas ofte uzataj por fari diversajn specojn de integraj cirkvitoj, inkluzive de mikroprocesoroj, memor-blatoj, sensiloj kaj aliaj elektronikaj aparatoj. 8-colaj silico-blatoj estas ofte uzataj por fari blatojn de relative grandaj grandecoj, kun avantaĝoj inkluzive de pli granda surfacareo kaj la kapablo fari pli da blatoj sur ununura silicia silo, kondukante al pliigita produktadefikeco. La 8-cola silico-blato ankaŭ havas bonajn mekanikajn kaj kemiajn ecojn, kio taŭgas por grandskala integra cirkvita produktado.

Produktaj trajtoj

8" P/N tipo, Polurita silicia oblato (25 pecoj)

Orientiĝo: 200

Rezistiveco: 0,1 - 40 omo•cm (Ĝi povas varii de aro al aro)

Dikeco: 725 +/- 20 µm

Primo/Ekrano/Testa Grado

MATERIALAJ PROPRAĴOJ

Parametro	Karakteriza
Tipo/Dopanto	P, Boro N, Fosforo N, Antimono N, Arseniko
Orientiĝoj	<100>, <111> tranĉaj orientiĝoj laŭ la specifoj de la kliento
Oksigena Enhavo	10¹⁹ppmA Specialaj tolerancoj laŭ klienta specifo
Karbona Enhavo	< 0.6 ppmA

MEKANIKAJ PROPRAĴOJ

Parametro	Ĉefo	Monitoro/ Testo A	Testo
Diametro	200±0.2mm	200 ± 0,2mm	200 ± 0,5 mm
Dikeco	725±20µm (normo)	725±25µm (normo) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (normo)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Arko	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Envolvu	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Randa Rondigo	DUON-STD
Markado	Primara DUON-Plata nur, DUON-STD Plataj Jeida Plata, Noĉa

Parametro	Ĉefo	Monitoro/ Testo A	Testo
Kriterioj de la antaŭa flanko
Surfaca stato	Kemia Mekanika Polurita	Kemia Mekanika Polurita	Kemia Mekanika Polurita
Surfaca Malglateco	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
Poluado Partikloj je >0.3 µm	= 20	= 20	= 30
Nebulo, Fosaĵoj Oranĝa ŝelo	Neniu	Neniu	Neniu
Segilo, Markoj Striadoj	Neniu	Neniu	Neniu
Kriterioj de la Malantaŭa Flanko
Fendetoj, korvopiedoj, segilmarkoj, makuloj	Neniu	Neniu	Neniu
Surfaca stato	Morda gratita