8 coloj Silicia oblato P/N-tipo (100) 1-100Ω imitaĵa reakira substrato

Mallonga Priskribo:

Granda inventaro de duflankaj poluritaj oblatoj, ĉiuj oblatoj de 50 ĝis 400 mm en diametro Se via specifo ne estas havebla en nia inventaro, ni establis longdaŭrajn rilatojn kun multaj provizantoj, kiuj kapablas personecigi oblatojn por konveni al ajna unika specifo. Duflankaj poluritaj oblatoj povas esti uzataj por silicio, vitro kaj aliaj materialoj kutime uzataj en la industrio de duonkonduktaĵoj.

Sendu retpoŝton al ni

Produkta Detalo

Produktaj Etikedoj

Enkonduko de oblato-skatolo

La 8-cola silicioblato estas ofte uzata silicia substrata materialo kaj estas vaste uzata en la fabrikado de integraj cirkvitoj. Tiaj silicioblatoj estas ofte uzataj por fari diversajn specojn de integraj cirkvitoj, inkluzive de mikroprocesoroj, memoraj blatoj, sensiloj kaj aliaj elektronikaj aparatoj. 8-colaj silicioblatoj kutimas ofte fari fritojn de relative grandaj grandecoj, kun avantaĝoj inkluzive de pli granda surfacareo kaj la kapablo fari pli da fritoj sur ununura silicioblato, kondukante al pliigita produktada efikeco. La 8-cola silicia oblato ankaŭ havas bonajn mekanikajn kaj kemiajn ecojn, kiuj taŭgas por grandskala integra cirkvito-produktado.

Produktaj trajtoj

8" P/N-tipo, Polurita silicia oblato (25-komputiloj)

Orientiĝo: 200

Rezistemo: 0,1 - 40 ohm•cm (Ĝi povas varii de aro al aro)

Dikeco: 725+/-20um

Ĉefa/Monitoro/Testa Grado

MATERIALAJ PROPIETOJ

Parametro	Karakteriza
Tipo/Dopanto	P, Boro N, Fosforo N, Antimono N, Arseniko
Orientiĝoj	<100>, <111> tranĉu orientiĝojn laŭ specifoj de kliento
Oksigena Enhavo	10¹⁹ppmA Propraj toleremoj laŭ specifo de kliento
Karbona Enhavo	< 0,6 ppmA

MEKANIKAJ PROPIETOJ

Parametro	Prime	Monitoro/ Testo A	Testo
Diametro	200±0.2mm	200 ± 0.2mm	200 ± 0,5 mm
Dikeco	725±20µm (normo)	725±25µm (normo) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (normo)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Pafarko	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Envolvi	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Randa Rondigo	SMI-STD
Markado	Primara SEMI-Ebena nur, SEMI-STD Flats Jeida Flat, Notch

Parametro	Prime	Monitoro/ Testo A	Testo
Antaŭaj Flankaj Kriterioj
Surfaca kondiĉo	Kemia Mekanika Polurita	Kemia Mekanika Polurita	Kemia Mekanika Polurita
Surfaca malglateco	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
Poluado Partikloj@ >0.3 µm	= 20	= 20	= 30
Haze, Pits Oranĝa ŝelo	Neniu	Neniu	Neniu
Segilo, Marks Strioj	Neniu	Neniu	Neniu
Malantaŭaj Flankaj Kriterioj
Fendoj, korvoj, segilmarkoj, makuloj	Neniu	Neniu	Neniu
Surfaca kondiĉo	Kaustika gravurita